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产品名称:液晶盒间隙测量仪
产品详细说明

产品说明:
WGT 液晶盒间隙测量仪
本测量仪可用来测量液晶盒间隙之厚度(1—10µm);电容膜或其他类型薄膜的厚度(1—50µm);也可当作台阶仪用来测量十分薄的薄膜的厚度(10nm-1µm),如液晶显示器中的PI膜、ITO和氧化硅层厚度的测量。
测量原理: 采用固定波长的激光束,以不同入射角斜射到被测样品上,通过测定干涉强度为极小的位置,从而确定样品的厚度。 本仪器结构的设计及測量原理,实质上是把不可直接測量的微小厚度,转换成一个可直接測量的直线长度,使測量方法十分简单而精确。 
(一) 机械规格:
  WGTI WGTII
外形尺寸 L360×W280×H400 mm L350×W280×H460 mm
重量 32 kg 40 kg

(二) 工作指标:
    性能参数 WGT-I WGT-II
测量范围 10nm-50µ
测量精度 厚度在10nm-1µ 范围测量绝对误差小于1nm
厚度在1-10µ 范围测量百分误差小于0.1%
厚度在10-50µ 范围测量百分误差小于0.3%
光源波长 0.675µ
载样品台尺寸 200mm*150mm 300mm*200mm
样品尺寸 长方形样品一边宽度小于150mm 尺寸无限制
测量时间 小于2秒/点
额定功率 150W
电源 220V 50Hz/60Hz

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