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| 产品名称：液晶盒间隙测量仪WGT—II型 |
| 产品详细说明 |
WGT 液晶盒间隙测量仪 (Gap Tester)
本测量仪可用来测量液晶盒间隙之厚度（1—10µm）；电容膜或其他类型薄膜的厚度（1—50µm）；也可当作台阶仪用来测量十分薄的薄膜的厚度（10nm-1µm）,如液晶显示器中的PI膜、ITO和氧化硅层厚度的测量。
测量原理: 采用固定波长的激光束，以不同入射角斜射到被测样品上，通过测定干涉强度为极小的位置，从而确定样品的厚度。 本仪器结构的设计及測量原理，实质上是把不可直接測量的微小厚度，转换成一个可直接測量的直线长度，使測量方法十分简单而精确。
（一） 机械规格：
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WGT—I型
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WGT—II型
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外形尺寸
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L360×W280×H400 mm
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L350×W280×H460 mm
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重量
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32 kg
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40 kg
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（二） 工作指标：
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性能参数
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WGT-I型
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WGT-II型
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测量范围
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10nm-50µ
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测量精度
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厚度在10nm-1µ 范围测量绝对误差小于1nm
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厚度在1-10µ 范围测量百分误差小于0.1％
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厚度在10-50µ 范围测量百分误差小于0.3％
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光源波长
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0.675µ
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载样品台尺寸
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200mm*150mm
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300mm*200mm
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样品尺寸
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长方形样品一边宽度小于150mm
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尺寸无限制
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测量时间
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小于2秒/点
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额定功率
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150W
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电源
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220V 50Hz/60Hz
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